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FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 是一款便攜式 X 射線熒光（XRF）設(shè)備，專為涂層厚度測量與合金材料分析設(shè)計。當樣品無法送至儀器處時，這款設(shè)備可直接前往樣品所在地進行檢測。

雖體型小巧，但它的性能堪比實驗室中的各類 X 射線熒光儀器。其搭載的現(xiàn)代硅漂移探測器（SDD），能在短短幾秒內(nèi)確保測量結(jié)果準確無誤，即便面對涉及多層結(jié)構(gòu)與多種合金的復雜測量任務，也能可靠完成。在測量涂層厚度時，保證設(shè)備與樣品間距離恒定、光路筆直至關(guān)重要，而該設(shè)備的三點支撐設(shè)計，可實現(xiàn)安全穩(wěn)定架設(shè)，保障涂層測量精度，測量結(jié)果還能直接在設(shè)備顯示屏上呈現(xiàn)。

數(shù)據(jù)后續(xù)分析方面，XAN 500 配備完整的 WinFTM® 軟件套件。基于基本參數(shù)分析的涂層厚度測量與材料分析功能，無需預先校準（即無標樣）就能精準測量；若需最高精度，也可借助德國國家認證機構(gòu)（DAkkS）認證的標準樣品，快速便捷地針對特定測量任務完成設(shè)備校準。